GB/T 43088-2023 微束分析 分析電子顯微術(shù) 金屬薄晶體試樣中位錯密度的測定方法

本文件規定了利用透射電子顯微鏡（TEM）測量金屬薄晶體中位錯密度的設備、試樣、測定方法、數據處理、測定結果的不確定度和試驗報告。 本文件適用于測定晶粒內不高于1×10 15m-2的位錯密度。也適用于測量幾十納米至幾百納米厚度金屬薄晶體試樣中單個(gè)晶粒內的位錯密度。